Publikation: Multi-characterization study of interface passivation quality of amorphous sub-stoichiometric silicon oxide and silicon oxynitride layers for photovoltaic applications
Lade...
Dateien
Zu diesem Dokument gibt es keine Dateien.
Datum
2018
Autor:innen
Herausgeber:innen
ISSN der Zeitschrift
Electronic ISSN
ISBN
Bibliografische Daten
Verlag
Schriftenreihe
Auflagebezeichnung
DOI (zitierfähiger Link)
Internationale Patentnummer
Angaben zur Forschungsförderung
Projekt
Open Access-Veröffentlichung
Sammlungen
Core Facility der Universität Konstanz
Titel in einer weiteren Sprache
Publikationstyp
Zeitschriftenartikel
Publikationsstatus
Published
Erschienen in
Solar Energy Materials and Solar Cells. 2018, 187, pp. 104-112. ISSN 0927-0248. eISSN 1879-3398. Available under: doi: 10.1016/j.solmat.2018.07.024
Zusammenfassung
Zusammenfassung in einer weiteren Sprache
Fachgebiet (DDC)
530 Physik
Schlagwörter
Konferenz
Rezension
undefined / . - undefined, undefined
Zitieren
ISO 690
STEFFENS, Jonathan, Maria Antonietta FAZIO, Daniela CAVALCOLI, Barbara TERHEIDEN, 2018. Multi-characterization study of interface passivation quality of amorphous sub-stoichiometric silicon oxide and silicon oxynitride layers for photovoltaic applications. In: Solar Energy Materials and Solar Cells. 2018, 187, pp. 104-112. ISSN 0927-0248. eISSN 1879-3398. Available under: doi: 10.1016/j.solmat.2018.07.024BibTex
@article{Steffens2018-12Multi-43427,
year={2018},
doi={10.1016/j.solmat.2018.07.024},
title={Multi-characterization study of interface passivation quality of amorphous sub-stoichiometric silicon oxide and silicon oxynitride layers for photovoltaic applications},
volume={187},
issn={0927-0248},
journal={Solar Energy Materials and Solar Cells},
pages={104--112},
author={Steffens, Jonathan and Fazio, Maria Antonietta and Cavalcoli, Daniela and Terheiden, Barbara}
}RDF
<rdf:RDF
xmlns:dcterms="http://purl.org/dc/terms/"
xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/"
xmlns:rdf="http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#"
xmlns:bibo="http://purl.org/ontology/bibo/"
xmlns:dspace="http://digital-repositories.org/ontologies/dspace/0.1.0#"
xmlns:foaf="http://xmlns.com/foaf/0.1/"
xmlns:void="http://rdfs.org/ns/void#"
xmlns:xsd="http://www.w3.org/2001/XMLSchema#" >
<rdf:Description rdf:about="https://kops.uni-konstanz.de/server/rdf/resource/123456789/43427">
<dcterms:title>Multi-characterization study of interface passivation quality of amorphous sub-stoichiometric silicon oxide and silicon oxynitride layers for photovoltaic applications</dcterms:title>
<dc:creator>Cavalcoli, Daniela</dc:creator>
<foaf:homepage rdf:resource="http://localhost:8080/"/>
<void:sparqlEndpoint rdf:resource="http://localhost/fuseki/dspace/sparql"/>
<dc:creator>Terheiden, Barbara</dc:creator>
<dc:creator>Fazio, Maria Antonietta</dc:creator>
<bibo:uri rdf:resource="https://kops.uni-konstanz.de/handle/123456789/43427"/>
<dc:contributor>Terheiden, Barbara</dc:contributor>
<dcterms:available rdf:datatype="http://www.w3.org/2001/XMLSchema#dateTime">2018-10-04T09:57:23Z</dcterms:available>
<dc:contributor>Cavalcoli, Daniela</dc:contributor>
<dc:contributor>Fazio, Maria Antonietta</dc:contributor>
<dc:contributor>Steffens, Jonathan</dc:contributor>
<dcterms:isPartOf rdf:resource="https://kops.uni-konstanz.de/server/rdf/resource/123456789/41"/>
<dc:language>eng</dc:language>
<dc:date rdf:datatype="http://www.w3.org/2001/XMLSchema#dateTime">2018-10-04T09:57:23Z</dc:date>
<dcterms:issued>2018-12</dcterms:issued>
<dspace:isPartOfCollection rdf:resource="https://kops.uni-konstanz.de/server/rdf/resource/123456789/41"/>
<dc:creator>Steffens, Jonathan</dc:creator>
</rdf:Description>
</rdf:RDF>Interner Vermerk
xmlui.Submission.submit.DescribeStep.inputForms.label.kops_note_fromSubmitter
Prüfungsdatum der Dissertation
Finanzierungsart
Kommentar zur Publikation
Allianzlizenz
Corresponding Authors der Uni Konstanz vorhanden
Internationale Co-Autor:innen
Universitätsbibliographie
Ja
Begutachtet
Unbekannt