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Implantation studies of low-energy positive muons in niobium thin films

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McFadden_2-1lx48a6oo64zo0.pdfGröße: 1.88 MBDownloads: 1

Datum

2026

Autor:innen

McFadden, Ryan M.L.
Suter, Andreas
Müller, Arnold M.
Prokscha, Thomas
Salman, Zaher
Junginger, Tobias

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Zeitschriftenartikel
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Erschienen in

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. Elsevier. 2026, 570, 165954. ISSN 0168-583X. eISSN 1872-9584. Verfügbar unter: doi: 10.1016/j.nimb.2025.165954

Zusammenfassung

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Fachgebiet (DDC)
530 Physik

Schlagwörter

Implantation profiles, Muon energy loss, Low energy muons, Muon spin spectroscopy, Niobium, Thin films

Konferenz

Rezension
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Zitieren

ISO 690MCFADDEN, Ryan M.L., Andreas SUTER, Leon RUF, Angelo DI BERNARDO, Arnold M. MÜLLER, Thomas PROKSCHA, Zaher SALMAN, Tobias JUNGINGER, 2026. Implantation studies of low-energy positive muons in niobium thin films. In: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. Elsevier. 2026, 570, 165954. ISSN 0168-583X. eISSN 1872-9584. Verfügbar unter: doi: 10.1016/j.nimb.2025.165954
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