Leitwertfluktuationen von Ein-Atom-Kontakten
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For future computer-technologies poeple hope, by having knowlegde of atomic conductance-properties, to be able to build electronic circuits atom by atom. Further measurements of the behaviour of electronic transport through single atoms in mechanical controllable break-junctions still leave questions about the connection to the atomic geometry open. By measuring of the conductance-fluctuations (these are quantum mechanical electron-wave-interferences between different scatter-paths which appear by varying a control-parameter such as the applied tension and which lead to an oscillation of the conductance) people hope to scan the local geometry of the central atom and its environment at energies of about 1 eV, appropriate to interatomic distances. The measurements performed in this work at the metal aluminum however showed an instability at tensions up to one volt, so that even a few hundred mV stimulated a change in the atomic structure, which leads to changes of the conductance to multiples of the value.
Zusammenfassung in einer weiteren Sprache
Für zukünftige Computer-Technologien erhofft man aufgrund von Kenntnissen über atomare Leitfähigkeiten elektronische Schaltkreise aus einzelnen Atomen aufbauen zu können. Bisherige Messungen von elektronischem Transportverhalten durch einzelne Atome mittels mechanisch kontrollierbaren Bruchkontakten lassen noch Fragen über den Zusammenhang zur atomaren Geometrie offen. Durch Messungen der Leitwertfluktuationen (das sind quantenmechanische Elektronenwelleninterferenzen zwischen unterschiedlichen Streupfaden, die bei Variation eines Kontrollparameters wie z.B. der angelegten Spannung entstehen und sich als Schwankung im Leitwert äußern) erhofft man sich bei Energien von etwa 1 eV, die Pfadlängen von interatomaren Abständen entsprechen, die lokale Geometrie des Zentralatoms und seiner Umgebung abtasten zu können. Die in dieser Arbeit durchgeführten Messungen am Metall Aluminium zeigten jedoch atomare Instabilitäten gegenüber Spannungen bis zu einem Volt, so dass häufig schon ab einigen 100 mV Atomumordnungen angeregt wurden, die mit Leitwertänderungen um ein Vielfaches verbunden waren.
Fachgebiet (DDC)
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ISO 690
SCHIRM, Christian, 2002. Leitwertfluktuationen von Ein-Atom-Kontakten [Master thesis]BibTex
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