KOPS - The Institutional Repository of the University of Konstanz

Mikroskopie und Spektroskopie an photonischen Kristallen : Einschluss von Licht auf Subwellenlängen-Bereiche

Mikroskopie und Spektroskopie an photonischen Kristallen : Einschluss von Licht auf Subwellenlängen-Bereiche

Cite This

Files in this item

Checksum: MD5:08ea2a43fc906214d667c0bcb7dbb55b
Checksum: MD5:367065b174574c0676c7ddd1b965d525
Checksum: MD5:b6b83eb1662b5edb3d26219b7d736315
Checksum: MD5:07a05bf5fee53522ce46a620b0132507

KRAMPER, Patrick, 2002. Mikroskopie und Spektroskopie an photonischen Kristallen : Einschluss von Licht auf Subwellenlängen-Bereiche [Dissertation]. Konstanz: University of Konstanz

@phdthesis{Kramper2002Mikro-9131, title={Mikroskopie und Spektroskopie an photonischen Kristallen : Einschluss von Licht auf Subwellenlängen-Bereiche}, year={2002}, author={Kramper, Patrick}, address={Konstanz}, school={Universität Konstanz} }

deu terms-of-use Kramper, Patrick Microscopy and Spectroscopy on Photonic Crystal: Confinement of Light to Subwavelength Regions 2011-03-24T17:53:53Z application/pdf Mikroskopie und Spektroskopie an photonischen Kristallen : Einschluss von Licht auf Subwellenlängen-Bereiche Gegenstand der vorliegenden Arbeit ist die optische Untersuchung von<br />photonischen Kristallen mit gezielt eingefügten Defekten. Dazu wurde eine<br />neuartige Methode entwickelt, die es durch eine Kombination von Spektroskopie<br />und Nahfeldoptik erlaubt, die stark wellenlängenabhängigen Eigenschaften der<br />Strukturen mit hoher räumlicher Auflösung zu untersuchen.<br /><br />Untersucht wurden fundamentale Defektstrukturen, die für die Verwirklichung von<br />integrierten optischen Schaltkreisen von großer Bedeutung sind: Punkt- und<br />Liniendefekte. Erstere stellen Resonatoren dar, die Licht auf kleinsten<br />Volumina einschließen können und Liniendefekte wirken als kleinste<br />Wellenleiter, in die sich weitere Bauelemente wie Knicke oder Strahlteiler<br />einfügen lassen.<br /><br />Die spektral und räumlich stark lokalisierten Moden eines<br />Punktdefekt-Mikroresonators wurden mit Hilfe eines weit durchstimmbaren optisch<br />parametrischen Oszillators angeregt. Durch Abrastern einer Faserspitze gegen<br />die Austrittsfläche des photonischen Kristalls konnte die Intensitätsverteilung<br />des transmittierten Lichtes abgebildet werden. Das Wiederholen dieser Messung<br />bei verschiedenen Wellenlängen ergab das Transmissionsspektrum der Struktur. Es<br />enthält zwei scharfe Resonanzen mit Gütefaktoren von 190 und 640.<br /><br />Um die Moden des Resonators abzubilden, wurde eine zweite Nahfeldsonde an die<br />Oberseite des photonischen Kristalls angenähert. Sie entzieht der Resonatormode<br />lokal Energie, so dass durch Abrastern der Oberfläche direkt die<br />Intensitätsverteilung im Resonator abgebildet werden konnte. Die Ausdehnungen<br />der Defektmode liegen deutlich unter einer optischen Wellenlänge.<br /><br />An einer Y-förmigen Struktur konnte nachgewiesen werden, dass sie als<br />hochintegrierter symmetrischer Strahlteiler wirkt. Abstandsabhängige Messungen<br />am Ausgang eines Liniendefekts zeigten, dass der Strahl nach der Struktur<br />weniger stark divergent war, als man von einer entsprechenden Apertur erwarten<br />würde. 2011-03-24T17:53:53Z Kramper, Patrick 2002

Downloads since Oct 1, 2014 (Information about access statistics)

kramper1.pdf 227
kramper3.pdf 278
kramper2.pdf 61
kramper4.pdf 189

This item appears in the following Collection(s)

Search KOPS


Browse

My Account