Two dimensional resolution of minority carrier diffusion constants in different silicon materials

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Datum
2002
Autor:innen
Sontag, Detlef
Geiger, Patric
Fath, Peter
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Zeitschriftenartikel
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Published
Erschienen in
Solar Energy Materials and Solar Cells. 2002, 72(1-4), pp. 533-539. ISSN 0927-0248. eISSN 1879-3398. Available under: doi: 10.1016/S0927-0248(01)00202-1
Zusammenfassung
Zusammenfassung in einer weiteren Sprache
Fachgebiet (DDC)
530 Physik
Schlagwörter
Konferenz
Rezension
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Zitieren
ISO 690SONTAG, Detlef, Giso HAHN, Patric GEIGER, Peter FATH, Ernst BUCHER, 2002. Two dimensional resolution of minority carrier diffusion constants in different silicon materials. In: Solar Energy Materials and Solar Cells. 2002, 72(1-4), pp. 533-539. ISSN 0927-0248. eISSN 1879-3398. Available under: doi: 10.1016/S0927-0248(01)00202-1
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