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Investigation of thin helium films with surface bound electrons

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1987

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Cieslikowski, Detlef H.
Dahm, Arnold J.

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http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:352-opus-29556
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https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.58.1751
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Erschienen in

Physical Review Letters. 1987, 58(17), pp. 1751-1754. ISSN 0031-9007. eISSN 1079-7114. Available under: doi: 10.1103/PhysRevLett.58.1751

Zusammenfassung

We have measured the mobility of electrons above 3He and 4He films condensed on a solid hydrogen substrate. Oscillations in the mobility as a function of film thickness indicate substantial layerwise adsorption of the films up to nine atomic layers. Superfluid and normal films show similar behavior.

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Fachgebiet (DDC)
530 Physik

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ISO 690CIESLIKOWSKI, Detlef H., Arnold J. DAHM, Paul LEIDERER, 1987. Investigation of thin helium films with surface bound electrons. In: Physical Review Letters. 1987, 58(17), pp. 1751-1754. ISSN 0031-9007. eISSN 1079-7114. Available under: doi: 10.1103/PhysRevLett.58.1751
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