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Degradation of Surface Passivation on Crystalline Silicon and Its Impact on Light-Induced Degradation Experiments

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IEEE Journal of Photovoltaics. 2017, 7(6), pp. 1627-1634. ISSN 2156-3381. eISSN 2156-3403. Available under: doi: 10.1109/JPHOTOV.2017.2755072

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530 Physik

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ISO 690SPERBER, David, Alexander GRAF, Daniel SKORKA, Axel HERGUTH, Giso HAHN, 2017. Degradation of Surface Passivation on Crystalline Silicon and Its Impact on Light-Induced Degradation Experiments. In: IEEE Journal of Photovoltaics. 2017, 7(6), pp. 1627-1634. ISSN 2156-3381. eISSN 2156-3403. Available under: doi: 10.1109/JPHOTOV.2017.2755072
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