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Proton irradiation defects in (fluoranthene)2PF6

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Datum

2007

Autor:innen

Stöffler, D.
de Jauregui, De Saez
Gmeiner, J.
Dormann, Elmar

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https://doi.org/10.1016/j.physleta.2006.11.017
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Publikationstyp
Zeitschriftenartikel
Publikationsstatus
Published

Erschienen in

Physics Letters A. 2007, 363(4), pp. 317-321. ISSN 0375-9601. eISSN 1873-2429. Available under: doi: 10.1016/j.physleta.2006.11.017

Zusammenfassung

Electron spin resonance and electron–proton double resonance (Overhauser shift method) are used for the comparison of proton radiation damaged and as-grown (fluoranthene)2PF6 single crystals. Chemical modification and various consequences of the nonuniform distribution of radiation induced defects in this quasi-one-dimensional organic conductor with defect dependent Peierls transition are worked out.

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Fachgebiet (DDC)
540 Chemie

Schlagwörter

Electron-spin resonance; Electron–proton double resonance; Quasi-one-dimensional conductors; Radiation defects

Konferenz

Rezension
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Zitieren

ISO 690STÖFFLER, D., Malte DRESCHER, De Saez DE JAUREGUI, J. GMEINER, Elmar DORMANN, 2007. Proton irradiation defects in (fluoranthene)2PF6. In: Physics Letters A. 2007, 363(4), pp. 317-321. ISSN 0375-9601. eISSN 1873-2429. Available under: doi: 10.1016/j.physleta.2006.11.017
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