Characterization of thin-film adhesion and phonon lifetimes in Al/Si membranes by picosecond ultrasonics

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New Journal of Physics. 2017, 19(5), 053019. eISSN 1367-2630. Available under: doi: 10.1088/1367-2630/aa6d05
Zusammenfassung
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Fachgebiet (DDC)
530 Physik
Schlagwörter
interface adhesion, time domain spectroscopy, phonons, non-destructive testing, intrinsic damping
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ISO 690GROSSMANN, Martin, Martin SCHUBERT, Chuan HE, Delia BRICK, Elke SCHEER, Mike HETTICH, Vitalyi GUSEV, Thomas DEKORSY, 2017. Characterization of thin-film adhesion and phonon lifetimes in Al/Si membranes by picosecond ultrasonics. In: New Journal of Physics. 2017, 19(5), 053019. eISSN 1367-2630. Available under: doi: 10.1088/1367-2630/aa6d05
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