Lebensdauerbestimmung und ortsaufgelöste Messung der Quantenausbeute an kristallinem Silizium

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Datum
1999
Autor:innen
Pernau, Thomas
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Lifetime and spectral response mappings on cristalline Silicon
Forschungsvorhaben
Organisationseinheiten
Zeitschriftenheft
Publikationstyp
Masterarbeit/Diplomarbeit
Publikationsstatus
Published
Erschienen in
Zusammenfassung

This master thesis covers generation and recombination of minority charge carriers in (multi-) crystalline silicon. Lifetime mappings were recorded using a microwave-detected photo- conductance decay measurement (µ-PCD method). Spatially resolved spectral response measurement were carried out by detecting the photocurrent generated by a laser spot. In both applications spatial accuracy is determined by the minimum focus of the applied laser.

Zusammenfassung in einer weiteren Sprache

Diese Diplomarbeit befasst sich mit der Generation und Rekombination von Ladungsträgern in (multi-) kristallinem Silizium. Zur ortsaufgelösten Messung der Lebensdauer von Ladungs- trägern wird der Zerfall der Photoleitfähigkeit nach einem Laserpuls mittels Mikrowellenreflexion beobachtet (µ-PCD-Methode). Die ortsaufgelöste interne Quantenausbeute erhält man durch Messung des Photostroms generiert durch punktuelle Beleuchtung der Solarzelle mit einem Laser. In beiden Fällen wird die Genauigkeit der Messung durch den Fokus des Messlasers bestimmt.

Fachgebiet (DDC)
530 Physik
Schlagwörter
Diodenlaser, spectral response, LBIC, µ-PCD, Lock-In-Verstärker, lifetime, lock-in amplifier
Konferenz
Rezension
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Zitieren
ISO 690PERNAU, Thomas, 1999. Lebensdauerbestimmung und ortsaufgelöste Messung der Quantenausbeute an kristallinem Silizium [Master thesis]
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