Publikation: Formation of defects at the amorphous silicon-crystalline silicon interface during annealing
Lade...
Dateien
Zu diesem Dokument gibt es keine Dateien.
Datum
2007
Autor:innen
Herausgeber:innen
ISSN der Zeitschrift
Electronic ISSN
ISBN
Bibliografische Daten
Verlag
Schriftenreihe
Auflagebezeichnung
Internationale Patentnummer
Angaben zur Forschungsförderung
Projekt
Open Access-Veröffentlichung
Sammlungen
Core Facility der Universität Konstanz
Titel in einer weiteren Sprache
Publikationstyp
Beitrag zu einem Konferenzband
Publikationsstatus
Published
Erschienen in
EUPVSEC, , ed.. Proceedings of the international conference : 22nd European Photovoltaic Solar Energy Conference ; held in Milan, Italy, 3 - 7 September 2007. [München]: WIP-Renewable Energies, 2007, pp. 936-939. ISBN 3-936338-22-1
Zusammenfassung
Zusammenfassung in einer weiteren Sprache
Fachgebiet (DDC)
530 Physik
Schlagwörter
Konferenz
22th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition, 3. Sept. 2007 - 7. Sept. 2007, Mailand
Rezension
undefined / . - undefined, undefined
Zitieren
ISO 690
PLAGWITZ, Heiko, Barbara TERHEIDEN, Rolf BRENDEL, 2007. Formation of defects at the amorphous silicon-crystalline silicon interface during annealing. 22th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition. Mailand, 3. Sept. 2007 - 7. Sept. 2007. In: EUPVSEC, , ed.. Proceedings of the international conference : 22nd European Photovoltaic Solar Energy Conference ; held in Milan, Italy, 3 - 7 September 2007. [München]: WIP-Renewable Energies, 2007, pp. 936-939. ISBN 3-936338-22-1BibTex
@inproceedings{Plagwitz2007Forma-32977, year={2007}, title={Formation of defects at the amorphous silicon-crystalline silicon interface during annealing}, isbn={3-936338-22-1}, publisher={WIP-Renewable Energies}, address={[München]}, booktitle={Proceedings of the international conference : 22nd European Photovoltaic Solar Energy Conference ; held in Milan, Italy, 3 - 7 September 2007}, pages={936--939}, editor={EUPVSEC}, author={Plagwitz, Heiko and Terheiden, Barbara and Brendel, Rolf} }
RDF
<rdf:RDF xmlns:dcterms="http://purl.org/dc/terms/" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/" xmlns:rdf="http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#" xmlns:bibo="http://purl.org/ontology/bibo/" xmlns:dspace="http://digital-repositories.org/ontologies/dspace/0.1.0#" xmlns:foaf="http://xmlns.com/foaf/0.1/" xmlns:void="http://rdfs.org/ns/void#" xmlns:xsd="http://www.w3.org/2001/XMLSchema#" > <rdf:Description rdf:about="https://kops.uni-konstanz.de/server/rdf/resource/123456789/32977"> <foaf:homepage rdf:resource="http://localhost:8080/"/> <dc:language>eng</dc:language> <dcterms:issued>2007</dcterms:issued> <dc:creator>Brendel, Rolf</dc:creator> <dc:date rdf:datatype="http://www.w3.org/2001/XMLSchema#dateTime">2016-02-15T14:32:01Z</dc:date> <dc:contributor>Terheiden, Barbara</dc:contributor> <dcterms:title>Formation of defects at the amorphous silicon-crystalline silicon interface during annealing</dcterms:title> <dspace:isPartOfCollection rdf:resource="https://kops.uni-konstanz.de/server/rdf/resource/123456789/41"/> <dc:creator>Plagwitz, Heiko</dc:creator> <bibo:uri rdf:resource="https://kops.uni-konstanz.de/handle/123456789/32977"/> <void:sparqlEndpoint rdf:resource="http://localhost/fuseki/dspace/sparql"/> <dcterms:available rdf:datatype="http://www.w3.org/2001/XMLSchema#dateTime">2016-02-15T14:32:01Z</dcterms:available> <dc:contributor>Plagwitz, Heiko</dc:contributor> <dc:creator>Terheiden, Barbara</dc:creator> <dc:contributor>Brendel, Rolf</dc:contributor> <dcterms:isPartOf rdf:resource="https://kops.uni-konstanz.de/server/rdf/resource/123456789/41"/> </rdf:Description> </rdf:RDF>
Interner Vermerk
xmlui.Submission.submit.DescribeStep.inputForms.label.kops_note_fromSubmitter
Prüfungsdatum der Dissertation
Finanzierungsart
Kommentar zur Publikation
Allianzlizenz
Corresponding Authors der Uni Konstanz vorhanden
Internationale Co-Autor:innen
Universitätsbibliographie
Nein