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Formation of defects at the amorphous silicon-crystalline silicon interface during annealing

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2007

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EUPVSEC, , ed.. Proceedings of the international conference : 22nd European Photovoltaic Solar Energy Conference ; held in Milan, Italy, 3 - 7 September 2007. [München]: WIP-Renewable Energies, 2007, pp. 936-939. ISBN 3-936338-22-1

Zusammenfassung

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Fachgebiet (DDC)
530 Physik

Schlagwörter

Konferenz

22th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition, 3. Sept. 2007 - 7. Sept. 2007, Mailand
Rezension
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Zitieren

ISO 690PLAGWITZ, Heiko, Barbara TERHEIDEN, Rolf BRENDEL, 2007. Formation of defects at the amorphous silicon-crystalline silicon interface during annealing. 22th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition. Mailand, 3. Sept. 2007 - 7. Sept. 2007. In: EUPVSEC, , ed.. Proceedings of the international conference : 22nd European Photovoltaic Solar Energy Conference ; held in Milan, Italy, 3 - 7 September 2007. [München]: WIP-Renewable Energies, 2007, pp. 936-939. ISBN 3-936338-22-1
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