Publikation:

High efficiency process development for defect-rich silicon wafer materials

Lade...
Vorschaubild

Dateien

Diss_Junge.pdf
Diss_Junge.pdfGröße: 10.12 MBDownloads: 492

Datum

2012

Autor:innen

Herausgeber:innen

Kontakt

ISSN der Zeitschrift

Electronic ISSN

ISBN

978-3-8439-0455-1
Bibliografische Daten

Verlag

München : Dr. Hut Verlag

Schriftenreihe

Auflagebezeichnung

DOI (zitierfähiger Link)
ArXiv-ID

Internationale Patentnummer

Angaben zur Forschungsförderung

Projekt

Open Access-Veröffentlichung
Open Access Green
Core Facility der Universität Konstanz

Gesperrt bis

Titel in einer weiteren Sprache

Publikationstyp
Dissertation
Publikationsstatus
Published

Erschienen in

Zusammenfassung

Der Siliziumwafer hat einen der größten Anteile an den Kosten einer auf kristallinem Silizium basierten Solarzelle.



Diese Arbeit beschreibt den Einfluss verschiedenster Prozessschritte der Solarzellenherstellung auf eine Reihe neuartiger, defektreicher Silizium-Wafermaterialien, die verglichen mit herkömmlichen Silizium-Wafermaterialien gewisse Kostenvorteile bieten.



Im Besonderen wird ein Hocheffizienzprozess für Laborsolarzellen vorgestellt, der sich auf eine Vielzahl unterschiedlicher Silizium-Wafermaterialien anwenden lässt und eine Bestimmung des Wirkungsgradpotentials dieser Materialien ermöglicht.

Zusammenfassung in einer weiteren Sprache

The silicon wafer is a major cost driver
for solar cells based on crystalline
silicon.



This work describes the influence of
different solar cell processing steps on
a variety of innovative, but defect-rich
low-cost multicrystalline silicon wafer
materials.



A high efficiency lab-type solar cell
process is presented. It allows the
determination of the solar cell efficiency
limit for a broad range of different new
silicon wafer materials.

Fachgebiet (DDC)
530 Physik

Schlagwörter

Hocheffizienzprozessierung, mc Silicon, Ribbon Silicon, UMG Silicon

Konferenz

Rezension
undefined / . - undefined, undefined

Forschungsvorhaben

Organisationseinheiten

Zeitschriftenheft

Zugehörige Datensätze in KOPS

Zitieren

ISO 690JUNGE, Johannes, 2012. High efficiency process development for defect-rich silicon wafer materials [Dissertation]. Konstanz: University of Konstanz. München : Dr. Hut Verlag. ISBN 978-3-8439-0455-1
BibTex
@phdthesis{Junge2012effic-18982,
  year={2012},
  publisher={München : Dr. Hut Verlag},
  title={High efficiency process development for defect-rich silicon wafer materials},
  author={Junge, Johannes},
  address={Konstanz},
  school={Universität Konstanz}
}
RDF
<rdf:RDF
    xmlns:dcterms="http://purl.org/dc/terms/"
    xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/"
    xmlns:rdf="http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#"
    xmlns:bibo="http://purl.org/ontology/bibo/"
    xmlns:dspace="http://digital-repositories.org/ontologies/dspace/0.1.0#"
    xmlns:foaf="http://xmlns.com/foaf/0.1/"
    xmlns:void="http://rdfs.org/ns/void#"
    xmlns:xsd="http://www.w3.org/2001/XMLSchema#" > 
  <rdf:Description rdf:about="https://kops.uni-konstanz.de/server/rdf/resource/123456789/18982">
    <dc:date rdf:datatype="http://www.w3.org/2001/XMLSchema#dateTime">2012-07-20T07:05:02Z</dc:date>
    <void:sparqlEndpoint rdf:resource="http://localhost/fuseki/dspace/sparql"/>
    <dspace:isPartOfCollection rdf:resource="https://kops.uni-konstanz.de/server/rdf/resource/123456789/41"/>
    <dcterms:issued>2012</dcterms:issued>
    <dspace:hasBitstream rdf:resource="https://kops.uni-konstanz.de/bitstream/123456789/18982/1/Diss_Junge.pdf"/>
    <dcterms:hasPart rdf:resource="https://kops.uni-konstanz.de/bitstream/123456789/18982/1/Diss_Junge.pdf"/>
    <bibo:uri rdf:resource="http://kops.uni-konstanz.de/handle/123456789/18982"/>
    <dcterms:available rdf:datatype="http://www.w3.org/2001/XMLSchema#dateTime">2012-07-20T07:05:02Z</dcterms:available>
    <dcterms:rights rdf:resource="https://rightsstatements.org/page/InC/1.0/"/>
    <bibo:issn>978-3-8439-0455-1</bibo:issn>
    <dcterms:isPartOf rdf:resource="https://kops.uni-konstanz.de/server/rdf/resource/123456789/41"/>
    <dc:contributor>Junge, Johannes</dc:contributor>
    <dc:rights>terms-of-use</dc:rights>
    <dcterms:abstract xml:lang="eng">Der Siliziumwafer hat einen der größten Anteile an den Kosten einer auf kristallinem Silizium basierten Solarzelle.&lt;br /&gt;&lt;br /&gt;&lt;br /&gt;&lt;br /&gt;Diese Arbeit beschreibt den  Einfluss verschiedenster Prozessschritte der Solarzellenherstellung auf eine Reihe neuartiger, defektreicher Silizium-Wafermaterialien, die verglichen mit herkömmlichen Silizium-Wafermaterialien gewisse Kostenvorteile bieten.&lt;br /&gt;&lt;br /&gt;&lt;br /&gt;&lt;br /&gt;Im Besonderen wird ein Hocheffizienzprozess für Laborsolarzellen vorgestellt, der sich auf eine Vielzahl unterschiedlicher Silizium-Wafermaterialien anwenden lässt und eine Bestimmung des Wirkungsgradpotentials dieser Materialien ermöglicht.</dcterms:abstract>
    <foaf:homepage rdf:resource="http://localhost:8080/"/>
    <dcterms:title>High efficiency process development for defect-rich silicon wafer materials</dcterms:title>
    <dc:language>eng</dc:language>
    <dc:publisher>München : Dr. Hut Verlag</dc:publisher>
    <dc:creator>Junge, Johannes</dc:creator>
  </rdf:Description>
</rdf:RDF>

Interner Vermerk

xmlui.Submission.submit.DescribeStep.inputForms.label.kops_note_fromSubmitter

Kontakt
URL der Originalveröffentl.

Prüfdatum der URL

Prüfungsdatum der Dissertation

February 29, 2012
Finanzierungsart

Kommentar zur Publikation

Allianzlizenz
Corresponding Authors der Uni Konstanz vorhanden
Internationale Co-Autor:innen
Universitätsbibliographie
Begutachtet
Diese Publikation teilen