Polk, Tom

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  • Veröffentlichung
    Beitrag zu einem Konferenzband
    FDive : Learning Relevance Models Using Pattern-based Similarity Measures
    (2019) Dennig, Frederik L.; Polk, Tom; Lin, Zudi; Schreck, Tobias; Pfister, Hanspeter; Behrisch, Michael
    Erschienen in: 2019 IEEE Conference on Visual Analytics Science and Technology (VAST). Piscataway, NJ: IEEE, 2019, pp. 69-80. ISBN 978-1-72812-284-7. Available under: doi: 10.1109/VAST47406.2019.8986940