Schecker, Olivier
Lade...
E-Mail-Adresse
ORCID
Geburtsdatum
Forschungsvorhaben
Organisationseinheiten
Berufsbeschreibung
Nachname
Schecker
Vorname
Olivier
Name
5 Ergebnisse
Suchergebnisse Publikationen
Gerade angezeigt 1 - 5 von 5
- VeröffentlichungZeitschriftenartikelMode shape and dispersion relation of bending waves in thin silicon membranes(2012) Waitz, Reimar; Nößner, Stephan; Hertkorn, Michael; Schecker, Olivier; Scheer, ElkeErschienen in: Physical Review B. 2012, 85(3). ISSN 1098-0121. Available under: doi: 10.1103/PhysRevB.85.035324
- VeröffentlichungZeitschriftenartikelSubharmonic Resonant Optical Excitation of Confined Acoustic Modes in a Free-Standing Semiconductor Membrane at GHz Frequencies with a High-Repetition-Rate Femtosecond Laser(2011) Bruchhausen, Axel; Gebs, Raphael; Hudert, Florian; Issenmann, Daniel; Klatt, Gregor; Bartels, Albrecht; Schecker, Olivier; Waitz, Reimar; Erbe, Artur; Scheer, Elke; Huntzinger, Jean-Roch; Mlayah, Adnen; Dekorsy, ThomasErschienen in: Physical Review Letters. 2011, 106(7). ISSN 0031-9007. Available under: doi: 10.1103/PhysRevLett.106.077401
- VeröffentlichungZeitschriftenartikelConfined longitudinal acoustic phonon modes in free-standing Si membranes coherently excited by femtosecond laser pulses(2009) Hudert, Florian; Bruchhausen, Axel; Issenmann, Daniel; Schecker, Olivier; Waitz, Reimar; Erbe, Artur; Scheer, Elke; Dekorsy, Thomas; Mlayah, Adnen; Huntzinger, Jean-RochErschienen in: Physical Review B. 2009, 79, 201307. Available under: doi: 10.1103/PhysRevB.79.201307
- VeröffentlichungZeitschriftenartikelOptical transmission and laser structuring of silicon membranes(2009) Juodkazis, Saulius; Nishi, Yasufumi; Misawa, Hiroaki; Mizeikis, Vygantas; Schecker, Olivier; Waitz, Reimar; Leiderer, Paul; Scheer, ElkeErschienen in: Optics express. 2009, 17(17), pp. 15308-15317. Available under: doi: 10.1364/OE.17.015308
- VeröffentlichungZeitschriftenartikelNanofabricated adjustable multicontact devices on membranes(2008) Waitz, Reimar; Schecker, Olivier; Scheer, ElkeErschienen in: Review of Scientific Instruments. 2008, 79, 093901. Available under: doi: 10.1063/1.2972148