Boneberg, Johannes

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Berufsbeschreibung
Nachname
Boneberg
Vorname
Johannes
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  • Veröffentlichung
    Zeitschriftenartikel
    Infrared steam laser cleaning
    (2008) Frank, Pascal; Lang, Florian; Mosbacher, Mario; Boneberg, Johannes; Leiderer, Paul
    Erschienen in: Applied Physics / A, Materials Science and Processing. 2008, 93(1), pp. 1-4. Available under: doi: 10.1007/s00339-008-4651-7
    Infrared_steam_laser_cleaning.pdf
  • Veröffentlichung
    Zeitschriftenartikel
    Matrix laser cleaning: a new technique for the removal of nanometer sized particles from semiconductors
    (2007) Graf, Johannes; Luk'jancuk, Boris S.; Mosbacher, Mario; Hong, Ming Hui; Chong, Chong T.; Boneberg, Johannes; Leiderer, Paul
    Erschienen in: Applied Physics. 2007, 88(2), pp. 277-230. Available under: doi: 10.1007/s00339-007-4017-6
    paper_358_APA_Graf_etal2007.pdf
  • Veröffentlichung
    Zeitschriftenartikel
    Nanoparticle adhesion and removal studied by pulsed laser irradiation
    (2006) Leiderer, Paul; Olapinski, Michael; Mosbacher, Mario; Boneberg, Johannes
    Erschienen in: High-Power Laser Ablation VI / Proc SPIE. 2006, 6261, 62610F. Available under: doi: 10.1117/12.675552
    Nanoparticle_adhesion_and_removal_studied_by_pulsed_laser_irradiation_2006.pdf
  • Veröffentlichung
    Zeitschriftenartikel
    Imaging optical near-fields of nanostructures
    (2004) Leiderer, Paul; Bartels, Christof; Koenig-Birk, Juliane; Mosbacher, Mario; Boneberg, Johannes
    Erschienen in: Applied Physics Letters. 2004, 85(22), pp. 5370-5372. Available under: doi: 10.1063/1.1819990
    332_apl_2004.pdf
  • Veröffentlichung
    Beitrag zu einem Sammelband
    Laser cleaning of silicon wafers : prospects and problems
    (2003) Mosbacher, Mario; Dobler, Volker; Bertsch, Micha; Münzer, Hans-Joachim; Boneberg, Johannes; Leiderer, Paul
    Erschienen in: MITTAL, K. L., ed.. Surface contamination and cleaning, Vol 1. Utrecht: VSP, 2003
    Laser_cleaning_of_silicon_wafers.pdf
  • Veröffentlichung
    Zeitschriftenartikel
    Laser cleaning of silicon wafers : mechanisms and efficiencies
    (2002) Mosbacher, Mario; Bertsch, Micha; Münzer, Hans-Joachim; Dobler, Volker; Runge, Bernd-Uwe; Bäuerle, Dieter; Boneberg, Johannes; Leiderer, Paul
    Erschienen in: Proc of SPIE. 2002, 4426, pp. 308-314. Available under: doi: 10.1117/12.456821
    294_procSPIE_2002.pdf
  • Veröffentlichung
    Zeitschriftenartikel
    Optical near field effects in surface nanostructuring and laser cleaning
    (2002) Münzer, Hans-Joachim; Mosbacher, Mario; Bertsch, Micha; Dubbers, Oliver; Burmeister, Frank; Pack, Andreas; Wannemacher, Reinhold; Runge, Bernd-Uwe; Bäuerle, Dieter; Boneberg, Johannes; Leiderer, Paul
    Erschienen in: Proc of SPIE. 2002, 4426, pp. 180-183. Available under: doi: 10.1117/12.456827
    295_procSPIE_2002.pdf
  • Veröffentlichung
    Beitrag zu einem Sammelband
    Steam laser cleaning of silicon surfaces : laser-induced gas bubble nucleation and efficiency measurements
    (2002) Leiderer, Paul; Mosbacher, Mario; Dobler, Volker; Schilling, Andreas; Yavaṣ, Oğuz; Luk'jancuk, Boris S.; Boneberg, Johannes
    Erschienen in: LUK'YANCHUK, Boris, ed.. Laser Cleaning. New Jersey: World Scientific, 2002, pp. 255-310
    Steam_laser_cleaning_of_silicon_surfaces.pdf
  • Veröffentlichung
    Beitrag zu einem Sammelband
    Optical resonance and near-field effects in dry laser cleaning
    (2002) Luk'jancuk, Boris S.; Mosbacher, Mario; Zheng, Y. W.; Münzer, Hans-Joachim; Huang, S. M.; Bertsch, Micha; Song, W. D.; Wang, Z. B.; Lu, Y. F.; Dubbers, Oliver; Boneberg, Johannes; Leiderer, Paul; Hong, Ming Hui; Chong, Tow Chong
    Erschienen in: LUK'YANCHUK, Boris, ed.. Laser Cleaning. New Jersey: World Scientific, 2002, pp. 103-178. Available under: doi: 10.1142/9789812777515_0003
    Optical_resonance_and_near_field_effects_in_dry_laser_cleaning.pdf
  • Veröffentlichung
    Zeitschriftenartikel
    Laser cleaning of polymer surfaces
    (2001) Fourrier, T.; Schrems, Gernot; Mühlberger, T.; Heitz, Johannes; Arnold, Nikita; Bäuerle, Dieter; Mosbacher, Mario; Boneberg, Johannes; Leiderer, Paul
    Erschienen in: Applied Physics / A, Materials Science and Processing. 2001, 72(1), pp. 1-6. Available under: doi: 10.1007/s003390000683
    276_applph_2001.pdf