Schreck, Tobias
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Berufsbeschreibung
Nachname
Schreck
Vorname
Tobias
Name
15 Ergebnisse
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- VeröffentlichungBeitrag zu einem KonferenzbandFDive : Learning Relevance Models Using Pattern-based Similarity Measures(2019) Dennig, Frederik L.; Polk, Tom; Lin, Zudi; Schreck, Tobias; Pfister, Hanspeter; Behrisch, MichaelErschienen in: 2019 IEEE Conference on Visual Analytics Science and Technology (VAST). Piscataway, NJ: IEEE, 2019, pp. 69-80. ISBN 978-1-72812-284-7. Available under: doi: 10.1109/VAST47406.2019.8986940
- VeröffentlichungBeitrag zu einem KonferenzbandPattern Trails : Visual Analysis of Pattern Transitions in Subspaces(2017) Jäckle, Dominik; Blumenschein, Michael; Behrisch, Michael; Keim, Daniel A.; Schreck, TobiasErschienen in: IEEE Conference on Visual Analytics Science and Technology (VAST). 2017
- VeröffentlichungBeitrag zu einem KonferenzbandVisual Quality Assessment of Subspace Clusterings(2016) Blumenschein, Michael; Färber, Ines; Behrisch, Michael; Tatu, Andrada; Schreck, Tobias; Keim, Daniel A.; Seidl, ThomasErschienen in: Proceedings of the ACM SIGKDD 2016 Full-day Workshop on Interactive Data Exploration and Analytics (IDEA’16),. 2016, pp. 53-62
- VeröffentlichungBeitrag zu einem KonferenzbandThe Visual Exploration of Aggregate Similarity for Multi-Dimensional Clustering(2015) Twellmeyer, James; Hutter, Marco; Behrisch, Michael; Kohlhammer, Jörn; Schreck, TobiasErschienen in: JOSÉ BRAZ, , ed. and others. IVAPP 2015 : Proceedings of the 6 th International Conference on Information Visualization Theory and Applications. SciTepress, 2015, pp. 40-50. ISBN 978-989-758-088-8
- VeröffentlichungBeitrag zu einem KonferenzbandGuiding the Exploration of Scatter Plot Data Using Motif-Based Interest Measures(2015) Shao, Lin; Schleicher, Timo; Behrisch, Michael; Schreck, Tobias; Sipiran, Ivan; Keim, Daniel A.Erschienen in: ENGELKE, Ulrich, ed. and others. 2015 Big Data Visual Analytics (BDVA). IEEE, 2015, pp. 57-64. ISBN 978-1-4673-7343-2. Available under: doi: 10.1109/BDVA.2015.7314294
- VeröffentlichungBeitrag zu einem KonferenzbandSubspace Nearest Neighbor Search : Problem Statement, Approaches, and Discussion(2015) Blumenschein, Michael; Behrisch, Michael; Färber, Ines; Sedlmair, Michael; Schreck, Tobias; Seidl, Thomas; Keim, Daniel A.Erschienen in: AMATO, Giuseppe, ed. and others. Similarity Search and Applications : 8th International Conference, SISAP 2015, Glasgow, UK, October 12-14, 2015 ; Proceedings. Cham [u.a.]: Springer, 2015, pp. 307-313. ISSN 0302-9743. eISSN 1611-3349. ISBN 978-3-319-25086-1. Available under: doi: 10.1007/978-3-319-25087-8_29
- VeröffentlichungBeitrag zu einem KonferenzbandGuided Sketching for Visual Search and Exploration in Large Scatter Plot Spaces(2014) Shao, Lin; Behrisch, Michael; Schreck, Tobias; Landesberger, Tatjana von; Scherer, Maximilian; Bremm, Sebastian; Keim, Daniel A.Erschienen in: MARGIT POHL ..., , ed.. EuroVis 2014 : the Eurographics Conference on Visualization ; 9-13 June 2014, Swansea, Wales, UK ; EuroVA 2014, the EuroVis Workshop on Visual Analytics. Eurographics Association, 2014, pp. 19-23. ISBN 978-3-905674-68-2. Available under: doi: 10.2312/eurova.20141140
- VeröffentlichungBeitrag zu einem KonferenzbandIdentifying Locally Interesting Motifs for Exploration of Scatter Plot Matrices(2014) Shao, Lin; Behrisch, Michael; Schreck, Tobias; Sipiran, Ivan; Kwon, Bum Chul; Keim, Daniel A.Erschienen in: GI Workshop Big Data Visual Computing – Quantitative Perspectives for Visual Computing, September 22, 2014 Stuttgart, Germany. 2014
- VeröffentlichungBeitrag zu einem KonferenzbandQuality Metrics Driven Approach to Visualize Multidimensional Data in Scatterplot Matrix(2014) Behrisch, Michael; Shao, Lin; Kwon, Bum Chul; Schreck, Tobias; Sipiran, Ivan; Keim, Daniel A.Erschienen in: GI Workshop Big Data Visual Computing – Quantitative Perspectives for Visual Computing, September 22, 2014, Stuttgart, Germany. 2014
- VeröffentlichungBeitrag zu einem KonferenzbandTowards a User-Defined Visual-Interactive Definition of Similarity Functions for Mixed Data(2014) Bernard, Jürgen; Sessler, David; Behrisch, Michael; Hutter, Marco; Schreck, Tobias; Kohlhammer, JornErschienen in: MIN CHEN ..., , ed.. 2014 IEEE Conference on Visual Analytics Science and Technology, Paris, France, 9-14 October 2014, Proceedings. Piscataway, NJ: IEEE, 2014, pp. 227-228. ISBN 978-1-4799-6227-3. Available under: doi: 10.1109/VAST.2014.7042503
