Schreck, Tobias
Forschungsvorhaben
Organisationseinheiten
Berufsbeschreibung
Nachname
Schreck
Vorname
Tobias
Name
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- VeröffentlichungZeitschriftenartikelQuality Metrics for Information Visualization(2018) Behrisch, Michael; Blumenschein, Michael; Kim, Naam Wook; El-Assady, Mennatallah; Fuchs, Johannes; Seebacher, Daniel; Diehl, Alexandra; Brandes, Ulrik; Schreck, Tobias; Weiskopf, Daniel; Keim, Daniel A. et al.Erschienen in: Computer Graphics Forum. 2018, 37(3), pp. 625-662. ISSN 0167-7055. eISSN 1467-8659. Available under: doi: 10.1111/cgf.13446
- VeröffentlichungBeitrag zu einem KonferenzbandPattern Trails : Visual Analysis of Pattern Transitions in Subspaces(2017) Jäckle, Dominik; Blumenschein, Michael; Behrisch, Michael; Keim, Daniel A.; Schreck, TobiasErschienen in: IEEE Conference on Visual Analytics Science and Technology (VAST). 2017
- VeröffentlichungZeitschriftenartikelMagnostics : Image-Based Search of Interesting Matrix Views for Guided Network Exploration(2017) Behrisch, Michael; Bach, Benjamin; Blumenschein, Michael; Delz, Michael; von Rüden, Laura; Fekete, Jean-Daniel; Schreck, TobiasErschienen in: IEEE Transactions on Visualization and Computer Graphics. 2017, 23(1), pp. 31-40. ISSN 1077-2626. eISSN 1941-0506. Available under: doi: 10.1109/TVCG.2016.2598467
- VeröffentlichungBeitrag zu einem KonferenzbandVisual Quality Assessment of Subspace Clusterings(2016) Blumenschein, Michael; Färber, Ines; Behrisch, Michael; Tatu, Andrada; Schreck, Tobias; Keim, Daniel A.; Seidl, ThomasErschienen in: Proceedings of the ACM SIGKDD 2016 Full-day Workshop on Interactive Data Exploration and Analytics (IDEA’16),. 2016, pp. 53-62
- VeröffentlichungBeitrag zu einem KonferenzbandSubspace Nearest Neighbor Search : Problem Statement, Approaches, and Discussion(2015) Blumenschein, Michael; Behrisch, Michael; Färber, Ines; Sedlmair, Michael; Schreck, Tobias; Seidl, Thomas; Keim, Daniel A.Erschienen in: AMATO, Giuseppe, ed. and others. Similarity Search and Applications : 8th International Conference, SISAP 2015, Glasgow, UK, October 12-14, 2015 ; Proceedings. Cham [u.a.]: Springer, 2015, pp. 307-313. ISSN 0302-9743. eISSN 1611-3349. ISBN 978-3-319-25086-1. Available under: doi: 10.1007/978-3-319-25087-8_29