Huynh, Duc K.
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Berufsbeschreibung
Nachname
Huynh
Vorname
Duc K.
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Gerade angezeigt 1 - 6 von 6
- VeröffentlichungZeitschriftenartikelOne-level density of families of elliptic curves and the Ratios Conjecture(2015) David, Chantal; Huynh, Duc K.; Parks, JamesErschienen in: Research in Number Theory. Springer. 2015, 1(1), 6. ISSN 2522-0160. eISSN 2363-9555. Available under: doi: 10.1007/s40993-015-0005-7
- VeröffentlichungZeitschriftenartikelLower order terms for the moments of symplectic and orthogonal families of L-functions(2013) Goulden, Ian P.; Huynh, Duc K.; Rishikesh; Rubinstein, Michael O.Erschienen in: Journal of Number Theory. 2013, 133(2), pp. 639-674. ISSN 0022-314X. eISSN 1096-1658. Available under: doi: 10.1016/j.jnt.2012.08.009
- VeröffentlichungZeitschriftenartikelA Random Matrix Model for Elliptic Curve L-Functions of Finite Conductor(2012) Dueñez, Eduardo; Huynh, Duc K.; Keating, Jon P.; Miller, Steven J.; Snaith, Nina C.Erschienen in: Journal of Physics A: Mathematical and Theoretical. 2012, 45(11), 115207. ISSN 1751-8113. eISSN 1751-8121. Available under: doi: 10.1088/1751-8113/45/11/115207
- VeröffentlichungZeitschriftenartikelAn elliptic curve test of the L-Functions Ratios Conjecture(2011) Huynh, Duc K.; Miller, Steven J.; Morrison, RalphErschienen in: Journal of Number Theory. 2011, 131(6), pp. 1117-1147. ISSN 0022-314X. eISSN 1096-1658. Available under: doi: 10.1016/j.jnt.2010.12.004
- VeröffentlichungZeitschriftenartikelThe lowest eigenvalue of Jacobi random matrix ensembles and Painlevé VI(2010) Dueñez, Eduardo; Huynh, Duc K.; Keating, Jon P.; Miller, Steven J.; Snaith, Nina C.Erschienen in: Journal of Physics A: Mathematical and Theoretical. 2010, 43(40), 405204. ISSN 1751-8113. eISSN 1751-8121. Available under: doi: 10.1088/1751-8113/43/40/405204
- VeröffentlichungZeitschriftenartikelLower Order Terms for the One-Level Density of Elliptic Curve L-Functions(2009) Huynh, Duc K.; Keating, Jon P.; Snaith, Nina C.Erschienen in: Journal of Number Theory. 2009, 129(12), pp. 2883-2902. ISSN 0022-314X. eISSN 1096-1658. Available under: doi: 10.1016/j.jnt.2008.12.008
